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华尔网局部放电检测仪 在了解了局部放电的基本理论之后,在本章我们的重点转向实际操作,我们先介绍局部放电测试中常用的三种接法,随后我们再介绍整个系统的接线电路,我们再分别介绍几种典型的试品的试验线路。局部放电测试电路的三种基本接法及优缺点。并联法 串联法 平衡法(1)标准试验电路,又称并联法。适合于必须接地的试品。其缺点是高压引线对地杂散电容并联在 CX上,会降低测试灵敏度。(2)接法的串联法,其要求试品低压端对地浮置。其优点是变压器入口电容、高压线对地杂散电容与耦合电容CK并联,有利于提高试验灵敏度。缺点是试样损坏时会损坏输入单元。(3)平衡法试验电路:要求两个试品相接近,至少电容量为同一数量级其优点是外干扰强烈的情况下,可取得较好抑制干扰的效果,并可变压器杂散电容的影响,而且可做大电容试验。缺点是须要两个相似的试品,且当产生放电时,需设法判别是哪个试品放电。值得提出的是:由于现场试验条件的限制(找到两个相似的试品且要保证一个试品无放电不太容易),所以在现场平衡法比较难实现,另外,由于采用串联法时,如果试品击穿,将会对设备造成比较大的损害,所以出于对设备保护的想法,在现场试验时一般采用并联法。二、采用并联法的整个系统的接线原理图。该系统采用脉冲电流法检测高压试品的局部放电量,由控制台控制调压器和变压器在试品的高压端产生测试局放所需的预加电压和测试电压,通过无局放藕合电容器和检测阻抗将局部放电信号取出并送至局部放电检测仪显示并判断和测量。系统中的高压电阻为了防止在测试过程中试品击穿而损坏其他设备,两个电源滤波器是将电源的干扰和整个测试系统分开,降低整个测试系统的背景干扰。
华尔网局部放电检测仪局部放电的定义及产生原因在电场作用下,绝缘系统中只有部分区域发生放电,但尚未击穿,(即在施加电压的导体之间没有击穿)。这种现象称之为局部放电。局部放电可能发生在导体边上,也可能发生在绝缘体的表面上和内部,发生在表面的称为表面局部放电。发生在内部的称为内部局部放电。而对于被气体包围的导体附近发生的局部放电,称之为电晕。由此 总结一下局部放电的定义,指部分的桥接导体间绝缘的一种电气放电,局部放电产生原因主要有以下几种:1、电场不均匀。2、电介质不均匀。3、制造过程的气泡或杂质。经常发生放电的原因是绝缘体内部或表面存在气泡;其次是有些设备的运行过程中会发生热胀冷缩,不同材料特别是导体与介质的膨胀系数不同,也会逐渐出现裂缝;再有一些是在运行过程中有机高分子的老化,分解出各种挥发物,在高场强的作用下,电荷不断地由导体进入介质中, 在注入点上就会使介质气化。二 、局部放电的模拟电路及放电过程简介介质内部含有气泡,在交流电压下产生的内部放电特性可由图1—1的模拟电路(a b c等值电路)予以表示;其中Cc是模拟介质中产生放电间隙(如气泡)的电容;Cb代表与Cc串联部分介质的合成电容;Ca表示其余部分介质的电容。(a) 实际介质 模拟电路I——介质有缺陷(气泡)的部份(虚线表示)II——介质无缺陷部份图1—1 表示具有内部放电的模拟电路图1—1中以并联有—对火花间隙的电容Cc来模拟产生局部放电的内部气泡。图1—2表示了在交流电压下局部放电的发生过程。
华尔网局部放电检测仪 系统工作原理:本机的局部放电测试原理是高频脉冲电流测量法(ERA法)。试品Ca在试验电压下产生局部放电时,放电脉冲信号经藕合电容Ca送入输入单元,由输入单元拾取到脉冲信号,经低噪声前置放大器放大,滤波放大器选择所需频带及主放大器放大(达到所需幅值与产生零标志脉冲)后,在示波屏的椭圆扫描基线上产生可见的放电脉冲,同时也送至脉冲峰值表显示其峰值。时间窗单元控制试验电压每一周期内脉冲峰值的工作时间,并在这段时间内将示波屏的相应显示区加亮,用它可以排除固定相位的干扰。试验电压表经电容分压器产生试验电压过零标志讯号,在示波屏上显示零标脉冲,椭圆时基上两个零标脉冲,通过时间窗的宽窄调节可确定试验电压的相位,试验电压大小由数字电压表指示。第五章 操作说明1、试验准备:将机器后面板的三个开关都置于“关”的状态(1)检查试验场地的接地情况,将本仪器后部的接地螺栓用粗铜线(用编制铜带)与试验场地的接地妥善相接,输入单元的接地短路片也要妥善接地。(2)根椐试品电容Ca,藕合电容Ck的大小,选取合适序号的输入单元(表一),表一中调谐电容量是指从输入单元初级绕组两端看到的电容(按Cx和Ck的串联值粗略估算)。输入单元应尽量靠近被测试品,输入单元插座经8米长电缆与后面板上输入插座相接。